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本文讨论了动态CMOS PLA的故障检测问题,并提出了一种可运用IDDO测试技术有效检测桥接故障、泄漏故障的动态CMOS PLA的结构
IDDQ可测的PLA的结构
【摘 要】
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本文讨论了动态CMOS PLA的故障检测问题,并提出了一种可运用IDDO测试技术有效检测桥接故障、泄漏故障的动态CMOS PLA的结构
【机 构】
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东南大学无线电工程系
【出 处】
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国外电子测量技术
【发表日期】
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2001年2期
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