IDDQ测试相关论文
该文以基于美国ATSC(AdvancedTelevisionSystemsCommittee)的A53标准的高清晰度电视信道接收芯片的设计为实例,对目前主流的各种可......
并行测试是高可靠系统检测的一种有效方法 .分析了当前大多数并行测试所采用的技术 ,针对它们硬件代价高、不易现场检修、复杂性大......
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这......
为了获得更高的产品质量和可靠性,降低产品早期失效率,老化筛选一直是半导体生产测试的常规流程。但是器件老化非常耗时,而且会带......
静态电流(IDDQ)测试的实现方法研究是IDDQ测试领域的重要内容之一,高速、高精度是共同追求的目标。通过分析测试向量改变时流过被......
针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被......
采用一种新的电路描述方法，适用于ＣＭＯＳ开发级电路及桥接故障模型，给出了几个主要的数据类型及操作，介绍了基本算法，并分析了算法的主要特点......
<正> 当CMOS器件的静态电流(I_(DDQ))测试作为一种几乎必不可少的和十分有价值的测试技术,而引起人们越来越多的注意时,对其应用前......
将ＥＤＡ（电子设计自动化系统）及ＡＴＰＧ（自动测试图形产生）工具与ＡＴＥ（自动测试设备）集成在一起，使得ＩＤＤＱ测试更为实用。......
由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高,导致电路的静态漏电流不断升高,深亚微米工艺SOC(系统芯片)IC在IDDQ测试的实现方面存在......
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法，CMOSIC本质上是电流可测试的，IDDQ测试可有效地提高产品质量，降低芯片生产价格，并且它对失效......
本文介绍CMOS电路的静态电流LDDQ测试的有关概念,讨论IDDQ阀值的确定方法和几种测试电路的实现,并对IDDQ测试矢量的产生进行简要评......
ＩＤＤＱ测试已取得进展并成为主要的测试方法。但也面临两个问题，一是故障检测的增加会影响产品的价格，二是由于采用深亚微米技术使基底电流......
并行测试是高可靠系统检测的一种有效方法，分析了当前大多数并行测试所采用的技术，针对它们硬件代价高、不易现场检修、复杂性大的不......
目的为了使 IDDQ 测试方法对 SOC(系统芯片)IC 能继续适用, 必须实现 SOC IDDQ 的可测试性设计, 解决因 SOC 设计的规模增大引起漏......
IDDQ测试是一种新的集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试电路的静态电源电流参数值，它可以有效地检测出早......
工艺参数的变异导致半导体制造过程的偏差。这种变异无法避免而且在深亚微米领域,受限于光刻分辨率;氧化层腐蚀造成厚度的改变,因......
随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,电路系统的规模和复杂性急剧上升,超大规模集成电路(VLSI)的测试已经成为一个越来越困难的......
早在1960年,IC制造者利用IDDQ技术测试器件是否存在功耗过大的问题.现在,IDDQ成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能......
本文介绍了IDDQ电流测试方法的基本原理,IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法。现在IDDQ电流测试成为CMOS电路故障检测的重要......
超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片（SoC）设计方法使测试面临新的挑战，需要研究开发新的测试方法和策略；本文首先介......
