为了研究冷敏果实在低温逆境下的抗寒性强弱,该试验以西葫芦和黄瓜为研究对象,通过测定在不同低温下(2、8、12、20℃)贮藏2、4、6、8、10、12 d过程中电解质外渗率的变化,分析不同贮藏温度及时间、成熟期、渗透时间、计量单位对试验结果的影响,配合Logistic方程建立回归方程,确定其低温半致死温度,以此来判定不同品种冷敏果实抗寒性强弱。结果表明,当渗透时间达到90 min时,电解质外渗率达到稳定状态。贮藏温度越低,贮藏时间越长,电解质外渗率越大。同时分别确定了西葫芦(5.37~6.56℃)、津优黄瓜(6.69~7.86℃)、申青黄瓜(8.04~8.96℃)的半致死温度,电解质外渗率的变化规律符合Logistic方程,决定系数R~2在0.9549~0.9900范围内.抗寒性顺序依次为西葫芦、津优黄瓜、申青黄瓜,且与成熟期无明显相关性。研究结果为判定不同品种西葫芦和黄瓜抗寒性强弱提供重要的依据。