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[期刊论文] 作者：涂启志,凌浪波,,
来源：电子与封装 年份：2017
IGBT（Insulate Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极晶体管）已得到广泛应用。为提高封装阶段的成品率,需对芯片的高温漏电特性进行测试。通过对芯片测试参数的分析,提出了可通...
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