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[期刊论文] 作者：刘涵雪,刘放飞,谢劲松,Fei Xie,,
来源：电子质量 年份：2016
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[期刊论文] 作者：刘涵雪,谢劲松,吕镇邦,喻宏,,
来源：半导体技术 年份：2016
为验证已建立的现场可编程门阵列(FPGA)器件准实时寿命评价系统的工程合理性,进行了加速寿命试验的设计。验证试验的设计,考虑不同型号之间的可靠性差异,针对特定型号的Xilin...
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