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[会议论文] 作者：刘鹏飞,郭春生,李秀宇,李志国,
来源：中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会 年份：2006
1/f噪声,由于其能够反映器件的质量与可靠性参数,其研究受到重视.本文首先较为系统地介绍了1/f噪声源两种较为成熟的理论:迁移率涨落模型和载流子涨落模型,最后介绍了几个1/f...
[会议论文] 作者：刘鹏飞;郭春生;李秀宇;李志国;,
来源：第十四届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议 年份：2006
CMOS集成电路由于自身的优秀的性能,已经广泛的应用在各个领域,伴随着电子产品功能的不断增强,集成电路复杂程度的逐步提高,其质量和可靠性也成为人们普遍关注的焦点.本文对C...
[会议论文] 作者：刘鹏飞,郭春生,李秀宇,李志国,
来源：中国电子学会第十二届全国青年学术年会 年份：2006
通过序进应力加速寿命试验,对某重点工程所采用的高频硅NPN晶体管3DG130进行可靠性评价,进行170～320℃温度范围內序进应力加速寿命试验,得到样品在不同温度下电流增益、饱和压...
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