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[学位论文] 作者：勾鑫聪,,
来源：西安工业大学 年份：2021
随着科技的快速发展,大口径光学元件被广泛地应该于多个领域,相移干涉仪作为检测大口径光学元件的主要手段,其相移干涉测量方法不断地发展及完善。传统的相移干涉法是硬件相移法,如推动压电陶瓷实现相移等,但是这种方法对于大口径的光学元件存在很大的测量误差;......
[期刊论文] 作者：勾鑫聪, 田爱玲, 朱学亮, 王大森, 刘卫国,,
来源：激光与光电子学进展 年份：2004
在干涉测量技术中,干涉条纹对比度对测量精度的影响至关重要。干涉条纹对比度与两相干光的振幅比、时间相干性、空间相干性有关,同时还与相干光的偏振特性有关。因此,本文基...
[期刊论文] 作者：勾鑫聪,田爱玲,朱学亮,王大森,刘卫国,
来源：激光与光电子学进展 年份：2019
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