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[期刊论文] 作者：吉国凡,,
来源：微处理机 年份：1991
本文阐述了一种采用TP805灵巧计算机测试可编程间隔定时器——8254功能的方法。用TP805的扩展口把8254的总线挂在系统总线上,用Z80PIO判别8254的计数输出。重点介绍了程序的...
[会议论文] 作者：吉国凡,
来源：中国微计算机学会八届年会 年份：1992
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[期刊论文] 作者：吉国凡,冯蕊,
来源：微处理机 年份：2003
主要介绍了以80C31为核,嵌入一个通用通讯接口器件的测试方法和技术....
[期刊论文] 作者：吉国凡,薛宏,
来源：微处理机 年份：1999
主要介绍了ＣＭＯＳ电路的ＩＤＤＱ测试技术。该的实现方法有两种：一种是片内ＩＤＤＱ测试；另一种是片上ＩＤＤＱ测试。前一种是在被测芯片内，设计一个电流传感器。是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路，变ＩＤＤＱ为电......
[会议论文] 作者：吉国凡,王惠,
来源：第五届中国测试学术会议 年份：2008
通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少...
[期刊论文] 作者：金兰,刘炜,吉国凡,,
来源：微处理机 年份：2011
在晶圆芯片测试时,提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果。在采用Multi-site方式的并行测试中,需要先解决选择何种产品进行并行测试,如何确定并行site数等问题,...
[会议论文] 作者：金兰,刘炜,吉国凡,
来源：第六届中国测试学术会议 年份：2010
在晶圆芯片测试时，提高单位时间内的效率能够实现低投入、高产出的效果．在采用Multi-site方式的并行测试中，需要先解决选择何种产品进行并行测试，如何确定并行site数等问题，然后再用最高效率的方法设计确定Multi-site并行测试方案．本文从软件和硬件方面对当前流行的Mu......
[期刊论文] 作者：吉国凡,陆虹,袁凯,
来源：微处理机 年份：2001
简介了LN7210智能GPIB接口控制器的主要功能、制造工艺以及测试技术。...
[期刊论文] 作者：吉国凡,赵智昊,杨嵩,,
来源：电子测试 年份：2007
本文以Xilinx公司基于SRAM的FPCAXC4010为研究对象，将FP-GA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块（CLB）的测试，并阐述了如何在Teradyne商用ATE（Automatic Test Equipment）J750上实...
[期刊论文] 作者：张琳,吉国凡,石志刚,,
来源：电子测试 年份：2008
本文概述了TPM（可信平台模块）安全芯片在信息安全建设中的重要作用,以及TPM安全芯片的特点及测试难点,在测试TPM安全芯片过程中,自动下载密码时,可以根据密码算法的具体情况,采...
[期刊论文] 作者：石志刚,刘伟,金兰,吉国凡,,
来源：微处理机 年份：2016
超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点,对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于TDS向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了TDS向量生成系...
[期刊论文] 作者：刘明,王笑怡,吉国凡,
来源：微处理机 年份：2002
简介了LC4781型嵌入式MCU的主要功能和相关的设计、制造、测试技术....
[期刊论文] 作者：吉国凡,薛宏,王忆文,
来源：微处理机 年份：1999
主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 :一种是片内 IDDQ测试 ;另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ,设计一个电流传感器。后者是在被测芯...
[期刊论文] 作者：谢鸭江,宁书林,吉国凡,
来源：微处理机 年份：1998
本文介绍了2MHz10mWCMOSLC6402－2通用异步收／发器。它采用可靠性设计、可靠性工艺实施和测试。具有可编程字长、停止位和校验、自动生成数据格式和状态等特点，可以广泛用于军事...
[期刊论文] 作者：侯政嘉, 张琳, 刘炜, 吉国凡,,
来源：微处理机 年份：2009
首先概述了信息安全芯片的结构、特点及在生产测试中的难点。在生产过程中，自动下载密码时，信息安全芯片可以根据密码算法的具体情况，采用不同的方法生成测试图形。并重点介绍了......
[期刊论文] 作者：侯政嘉,刘炜,石志刚,吉国凡,,
来源：微处理机 年份：2007
重点研究集成电路并行测试适配器的设计技术。通过利用布局布线、阻抗匹配、分割电源和地的平面等项技术解决了多管芯之间的相互隔离、信号同步等问题。...
[期刊论文] 作者：张东庄,陈宜荣,吉国凡,赵军,宁书林,苏秀娣,,
来源：微处理机 年份：1991
LN8254是为解决软件中常遇到的计时问题而设计的。文章重点介绍了计数器的逻辑分析,较详细的说明电路读/写原理,简单地介绍了电路的功能和用途。该电路编程简单,使用方便,是...
[会议论文] 作者：时万春, 吉国凡, 陈大为, 刘鸿琴, 刘学森, 孙加兴,,
来源： 年份：2004
IC工程测试和生产测试直接涉及IC设计、生产产品的性能、指标、应用和价格,并最后直接面对市场和效益的考验和取向。专题发言对IC产业化测试进行了较为完整和系统的阐述,特别...
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