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[期刊论文] 作者：A.Joshi,吴廉亿,
来源：宇航材料工艺 年份：1982
Ⅰ、序言 表面的化学组成对材料的性能起着重要作用。诸如硬度、摩擦、疲劳、润滑和磨损特性、吸附、表面活性、催化作用、表面扩散、晶体生长、二次电子及热电子发射特性等...
[期刊论文] 作者：L.E.Davis,吴廉亿,
来源：宇航材料工艺 年份：1982
现代表面分析技术已广泛应用于当代科学的各个领域中。应用俄歇电子谱学(AES)与X-射线光电子谱学(XPS或ESCA)研究自由表面或内界面的化学成分分布及化合物的化学结合状态,对...
[期刊论文] 作者：何涛,吴廉亿,
来源：宇航材料工艺 年份：1989
本文研究了国产中规模集成电路铝金属化系统电迁移失效机理以及磷硅玻璃(PSG)和聚酰亚胺钝化层对铝条失效行为的影响,并对铝条的形貌进行了扫描电镜观察和分析。实验测得铝条...
[会议论文] 作者：何涛;吴廉亿;,
来源：第二届全国航空装备失效分析研讨会 年份：1997
某航天产品在进行小匹配试验时出现漏电现象，经查，漏电系一只１ＪＳ－７延时继电器第５脚与壳体间绝缘电阻下降造成。测试发现绝缘电阻与外界潮气直接相关。宏观检查发现第１０脚漆层下面玻璃绝......
[期刊论文] 作者：吴廉亿,薛磊,,
来源：材料工艺 年份：1977
本文简略介绍采用9Cr18Mo高碳不锈钢代替TIOA作为加速度表合成轴轴尖材料,以解决轴尖锈蚀问题的试验工作。对9Cr18Mo钢丝的冷加工工艺、热处理制度进行了试验研究,并经装表进...
[期刊论文] 作者：胡会能,吴廉亿,
来源：宇航材料工艺 年份：1991
半导体器件中 Au-Al 键合系统失效在国外早就引起重视,许多专家学者在此领域进行了广泛和深入的研究工作。目前在国內尚未看到有关这方面的文献报道,而 Au-Al 系键合失效现象...
[期刊论文] 作者：胡会能,吴廉亿,
来源：宇航材料工艺 年份：1993
本文研究了国产普通TO型管壳中的可伐基底上镀金层与Al-1％Si丝键合后,在恒温老化过程中Au-Al之间互扩散及金属间化合物的形成情况,同时由于Kirkendall效应的存在,引起孔洞的形...
[期刊论文] 作者：何涛,吴廉亿,雷祖圣,
来源：宇航材料工艺 年份：1989
本文研究了国产中规模集成电路铝金属化系统电迁移失效机理以及磷硅玻璃(PSG)和聚酰亚胺钝化层对铝条失效行为的影响,并对铝条的形貌进行了扫描电镜观察和分析。实验测得铝条...
[期刊论文] 作者：胡会能,吴廉亿,雷祖圣,
来源：宇航材料工艺 年份：1991
半导体器件中 Au-Al 键合系统失效在国外早就引起重视,许多专家学者在此领域进行了广泛和深入的研究工作。目前在国內尚未看到有关这方面的文献报道,而 Au-Al 系键合失效现象...
[期刊论文] 作者：胡会能,吴廉亿,雷祖圣,
来源：宇航材料工艺 年份：1993
本文研究了国产普通TO型管壳中的可伐基底上镀金层与Al-1％Si丝键合后,在恒温老化过程中Au-Al之间互扩散及金属间化合物的形成情况,同时由于Kirkendall效应的存在,引起孔洞的形...
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