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[期刊论文] 作者：复旦大学物理系半导体器件组,
来源：复旦大学学报(自然科学) 年份：1965
文献曾报导过高能带电粒子和中子对探测器性能的影响。并把性能的变化主要归结为体性质(如寿命,电阻率)的改变。本文则研究了对体性质影响较弱的r辐照对金-硅面垒探测器性能...
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