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[会议论文] 作者：崔辉[1]刘世杰[2]赵元安[2]杨俊[1]刘杰[1]刘文文[1],
来源：上海市激光学会2013年学术年会 年份：2013
亚表面缺陷的检测和去除对于提高光学元件的抗激光损伤阈值至关重要。本文提出一种结合全内反射显微技术和数字图像处理技术获得光学元件亚表面缺陷分布信息的新方法。利...
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