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[期刊论文] 作者：康锡娥,,
来源：电子与封装 年份：2015
热阻值是评判功率MOSFET器件热性能优劣的重要参数，因此热阻测试至关重要。通过对红外线扫描、液晶示温法、标准电学法3种热阻测试方法比较其优缺点，总结出标准电学法测试比较......
[期刊论文] 作者：康锡娥,
来源：微处理机 年份：2017
电子元器件是电子设备的基础,是不能再进行分割的基本单元,因此电子元器件的寿命在一定程度上决定了电子设备的使用寿命。功率MOSFET是所有元器件中使用最广泛的品种之一,数...
[期刊论文] 作者：康锡娥,,
来源：微处理机 年份：2017
以共阴极肖特基二极管为研究对象,开展单管芯热阻和双管芯热阻测试研究。通过对共阴极二极管的简单介绍,引入传统热阻测试、有限元仿真、热阻矩阵三种方式,进行相同测试条件...
[学位论文] 作者：康锡娥,,
来源：西安电子科技大学 年份：2021
在设计的验证阶段,就需要对芯片进行简单的测试,被称为验证测试;在晶圆制造完成之后,对晶圆进行测试,这个阶段被称为中测。此时用到的测试设备是集成电路测试系统、探针台。晶圆测试完成之后,就对测试合格的晶圆进行封装,封装完成之后,再次进行测试,这时需要的......
[期刊论文] 作者：康锡娥,郜月兰,,
来源：电子制作 年份：2015
本文通过讲述UIS的测试原理,得出雪崩计算公式,着重对目前两种不同模式的测试方法,从测试原理上进行比对,总结两种模式下的特点。...
[期刊论文] 作者：康锡娥,刘珊珊,,
来源：微处理机 年份：2010
从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面，在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法，再针对不同的测试方法进行比较，从而达到提高集成电路中......
[期刊论文] 作者：刘珊珊,康锡娥,,
来源：电子与封装 年份：2013
为了更好地满足生产质量要求，严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上，文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高......
[期刊论文] 作者：康锡娥,KANG Xi’e,
来源：电子与封装 年份：2004
热阻值是评判功率MOSFET器件热性能优劣的重要参数，因此热阻测试至关重要。通过对红外线扫描、液晶示温法、标准电学法3种热阻测试方法比较其优缺点，总结出标准电学法测试比较......
[期刊论文] 作者：康锡娥,郜月兰,,
来源：微处理机 年份：2017
电子元器件是电子设备的基础,是不能再进行分割的基本单元,因此电子元器件的寿命在一定程度上决定了电子设备的使用寿命。功率MOSFET是所有元器件中使用最广泛的品种之一,数...
[期刊论文] 作者：赵鹤然,康锡娥,马艳艳,,
来源：微处理机 年份：2017
随着集成电路小型化、集成化、大功率化的迅猛发展,电子封装的热阻参数越来越得到用户和封装、测试工程师的关注。特别是大功率MOS器件,热管理问题直接影响其可靠性。针对一...
[期刊论文] 作者：刘珊珊,康锡娥,马菲,
来源：微处理机 年份：2008
随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展，测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类，以及存储器电路的测试参数和测试向量。...
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