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[学位论文] 作者:庸安明,, 来源:东南大学 年份:2017
氮化钨是一种很重要的宽带隙半导体材料。与其他半导体材料相比,氮化钨的化学性质不活泼,并且具有很强的化学键,但是高键能也使得在刻蚀氮化钨时需要比其他半导体材料更高的...
[期刊论文] 作者:庸安明,王佃利,蒋幼泉,, 来源:固体电子学研究与进展 年份:2014
提出了在SF6/CHF3等离子中反应离子刻蚀WN金属层的方法,通过对各工艺参数(功率、压力、流量配比等)对WN刻蚀钻蚀量影响的研究,优化了工艺参数,获得了易于控制的侧向钻蚀量小于0.1μm......
[期刊论文] 作者:刘洪军,王建浩,丁晓明,高群,冯忠,庸安明,严德圣,蒋幼泉,, 来源:固体电子学研究与进展 年份:2014
通过进一步优化芯片设计与工艺设计,研制出L波段370W硅双极型功率晶体管。该器件在42V工作电压下,脉宽150μs,占空比10%,频率1.2~1.4GHz全带内,输出功率可达370 W以上,增益达...
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