搜索筛选:
搜索耗时2.7299秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者：所刘涌,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2002
美国国家半导体公司的主要圆片制造工艺的早期失效率（PPM）和长期失效率（FIT）如表1所示。早期失效率是以X2分布、60％置信度来计算的。长期失效率则以阿列尼斯（Arrhenius）公式、激活能......
相关搜索：
