搜索筛选:
搜索耗时1.8726秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 25 篇相符的论文内容
发布年度:
[学位论文] 作者：方祥圣,,
来源：合肥工业大学 年份：2006
随着芯片规模和工作频率迅速增长,尤其是系统芯片SOC的出现,由于嵌入了各种芯核(core),使得测试数据上升,而被测试芯核又难以进入,结果导致测试费用大量增加,并且传统的离线...
[学位论文] 作者：方祥圣,,
来源：合肥工业大学 年份：2019
随着工艺尺寸的不断减小,VLSI芯片的性能也在不断提高,同时给VLSI芯片的测试带来了诸多挑战。目前,在纳米工艺下,自测试是解决VLSI芯片测试的研究热点,自测试的研究为VLSI芯...
[期刊论文] 作者：方祥圣,,
来源：计算机工程与应用 年份：2013
提出了一种综合测试数据压缩方案。它是在折叠压缩的基础上，利用统计码进行优化，二次压缩测试数据，给出了解压逻辑结构和状态转换图。实验结果证明该方案具有较高的压缩率，其平均......
[期刊论文] 作者：方祥圣,
来源：济南职业学院学报 年份：2013
本文通过分析目前C语言课程教学中存在的问题，针对C语言课程的特点，结合自己多年的教学经验，从能力培养的角度出发，打破传统的C语言课程结构，即重视理论体系，轻视能力培养的结构．而......
[期刊论文] 作者：方祥圣,
来源：建筑工程技术与设计 年份：2015
随着全球能源危机日趋严重。低碳﹑环保﹑节能的理念已经成为各国经济发展过程中的重要理念。在建筑供配电线路设计中，也应该积极贯彻节能的理念，采取合适的设计方法，降低能量损耗，进......
[期刊论文] 作者：方祥圣,
来源：信息周刊 年份：2015
安徽金城工程设计研究院有限公司 安徽省合肥市 230051 【摘 要】随着自动化技术的不断发展，自动化技术的应用范围越来越广泛。尤其将自动化技术运用在电力供配电系统当中，有助于降低电网运行的故障，确保电网运行的安全性和稳定性，同时还能有效减少劳动力数量。......
[期刊论文] 作者：余芳,方祥圣,,
来源：新余学院学报 年份：2016
以230位在C2C网站有过购物经历的消费者为研究样本,对交易中卖家的信用现状、信用问题的改进对策等进行了问卷调查。通过对问卷数据的实证分析结果显示,在C2C交易中卖家存在...
[期刊论文] 作者：吴新胜,方祥圣,
来源：安徽工程科技学院学报(自然科学版) 年份：2003
本系统采用一台工业计算机集散控制4台电热炉,各炉又自成小系统互不干扰,同时实现了计算机监控和智能仪表双工位控制.阐明了该系统的构成和主要功能.归纳出该系统的数学模型....
[期刊论文] 作者：方祥圣,曹先霞,,
来源：安徽建筑工业学院学报(自然科学版) 年份：2006
针对系统芯片SOC测试出现的难题，介绍了几种目前国际上研究较热的内建自测试BIST（Built In Self Testing）方法，分析了这几种方法的优缺点，并对其作出探讨，最后，展望了系统芯片SOC的B......
[期刊论文] 作者：方祥圣,刁李,潘爱华,
来源：淮南师范学院学报 年份：2013
针对信息安全技术课程的特点,从实践教学出发,分析目前该课程教学中存在的问题,将任务驱动法引入该课程的教学,并根据信息安全技术岗位实际需求,打破原有课程结构,将该课程设...
[期刊论文] 作者：方祥圣,梁华国,曹先霞,,
来源：计算机工程 年份：2006
提出了一种低功耗的综合BIST方案。该方案是采取了屏蔽无效测试模式生成、提高应用测试向量之间的相关性以及并行加载向量等综合手段来控制测试应用，使得测试时测试向量的输入......
[期刊论文] 作者：方祥圣,梁华国,沈祝财,
来源：计算机技术与发展 年份：2006
文中提出了一种新颍的SOC芯片BIST方案。该方案是利用相容技术和折叠技术，将SOC芯片中多个芯核的测试数据整体优化压缩和生成，并且能够实现多个芯核的并行测试，具有很高的压缩率......
[期刊论文] 作者：余成林,易茂祥,陶金,方祥圣,,
来源：电子技术应用 年份：2013
电容降压型直流电源以体积小、成本低的特点,广泛应用于各类小功率电子设备中。针对传统电容降压型直流电源电路,通过引入一个可控硅器件,并对电路结构进行适当调整,设计出一...
[期刊论文] 作者：佘成林,易茂祥,陶金,方祥圣,
来源：电子技术应用 年份：2013
电容降压型直流电源以体积小、成本低的特点，广泛应用于各类小功率电子设备中。针对传统电容降压型直流电源电路，通过引入一个可控硅器件，并对电路结构进行适当调整，设计出一种新......
[期刊论文] 作者：李必信,方祥圣,袁海,郑国梁,,
来源：计算机科学 年份：2001
1 引言软件测试是人们发现、纠正、预防软件错误以及完善软件功能的重要手段。软件测试的目的就是为了发现程序中的错误。对于传统程序设计语言书写的软件,软件测试人员普遍接受三个级别的测试:单元测试、集成测试和系统测试。无论在哪个级别上进行测试,其测试......
[期刊论文] 作者：梁华国,方祥圣,蒋翠云,欧阳一鸣,易茂祥,,
来源：计算机研究与发展 年份：2006
提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试...
[期刊论文] 作者：黄正峰, 张阳阳, 李雪健, 付俊超, 徐秀敏, 方祥圣,,
来源：合肥工业大学学报(自然科学版) 年份：2019
文章提出了一种新型的锁存器,采用双模冗余容错技术,能够同时容忍单粒子单节点翻转和单粒子双节点翻转。相比于同类型的加固设计,文中设计的结构延迟平均下降74.40%,功耗平均...
[期刊论文] 作者：梁华国,方祥圣,蒋翠云,鸥阳一鸣,易茂祥,
来源：计算机研究与发展 年份：2006
提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案。它是在基于折叠计数器的基础上，采用LFSR编码折叠计数器种子，并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成，使得产生的测试模......
[期刊论文] 作者：李扬,梁华国,蒋翠云,常郝,易茂祥,方祥圣,杨彬,,
来源：计算机应用 年份：2014
为了减少测试应用时间并保证高测试数据压缩率,提出一种选择序列的并行折叠计数器。在分析并行折叠计算理论的基础上,通过记录表示折叠索引的组序号和组内序号生成选择状态的测试序列,避免了无用和冗余的测试序列的生成。ISCAS标准电路的实验结果表明,该方案的......
[期刊论文] 作者：易茂祥,余成林,方祥圣,黄正峰,欧阳一鸣,梁华国,,
来源：计算机研究与发展 年份：2015
测试模式生成对集成电路内建自测试（built-in self-test,BIST）的效率具有重要影响.现有的并行折叠计数器（parallel folding counter,PFC）只能实现状态向量（state vector,SV）的顺序...
相关搜索：
