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[学位论文] 作者:曹洪端,
来源: 年份:2010
在精密计量测试中,对小角度的测量精度提出了很高的要求。高精度的二维角位移测量系统具有广阔的应用前景。为此,本文展开研究,其核心内容主要包括两个方面:(1)基于干涉条纹形状的二维角位移测量原理与方案的研究;(2)基于干涉条纹信号处理算法的研究。其主要研究......
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