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[会议论文] 作者：朱方[1]张兆传[2]罗积润[2],
来源：中国电子学会真空电子学分会第十七届学术年会暨军用微波管研讨会 年份：2009
本文通过对实验过程中炸裂的S波段盒型输出窗观察和X射线光电子能谱(XPS)检测，结合软件对窗内电场分布模拟，探讨高平均功率输出窗电击穿的物理原因。结果表明，窗片表面沉积的有......
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