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[会议论文] 作者：杨景海[1]杨丽丽[1]宫杰[1]华中[1]范厚刚[1]赵庆祥[2],
来源：第五届全国光子学大会 年份：2004
利用分子束外延技术制得结构不同的 InAs 量子点样品，运用原子力显微技术（AFM）表征量子点的大小和浓度，并采用分光法对样品的光致发光效率进行研究。发现在 InAs 层和 GaAs 覆盖...
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