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[期刊论文] 作者：汤良怒,孙大千,周德才,
来源：中华劳动卫生职业病杂志 年份：1988
应用微核测定法研究了匀强磁场的致突变效应。结果表明：1．在0～5000G.S范围内，微核细胞率与照射剂量呈线性关系（r=0.9871823）。以最小二乘法进行回归分析，得到经验回归直线Y=2.81904762+0.00126571D。 2．在3000G.S时，在0～180分钟的范围内，微核细胞率与照射时间增长呈非线性......
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