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[会议论文] 作者：朱颖峰,卢云鹏,肖徽山,和自强,
来源：全国光电技术学术交流会 年份：2000
器件的漏气率大小是决定红外探测器搁置和使用寿命的关键因素之一,也是判断军用多元金属杜瓦瓶真空完善性的重要指标,特别是常规漏率检测手段难以探测的微小漏率是长久以来影...
[期刊论文] 作者：朱颖峰,肖徽山,陶雁明,卢云鹏,,
来源：红外技术 年份：2006
详细介绍用于封装288×4、288×1长波红外HgCdTe焦平面探测器芯片和256×256中波红外PtSi焦平面探测器芯片的分置式焦平面杜瓦的研制情况。该型号产品实现了工程...
[期刊论文] 作者：田立萍,朱颖峰,魏东红,肖徽山,
来源：红外技术 年份：2005
热负载是决定探测器/杜瓦组件与制冷机适配性能的重要指标之一,也是间接判断探测器/杜瓦组件内部真空度的手段.为适应批量生产的测试要求,我们建立了热负载自动测试系统....
[会议论文] 作者：朱颖峰,龙杰勋,肖徽山,陶雁明,
来源：第七届全国低温与制冷工程大会 年份：2005
本文详细介绍用于封装288×4、288×1长波红外HgCdTe焦平面探测器芯片和256×256中波红外PtSi焦平面探测器芯片的分置式焦平面杜瓦的研制情况.该型号产品实现了工程化、实用...
[期刊论文] 作者：朱颖峰,卢云鹏,李海英,肖徽山,和自强,李冰川,
来源：红外与激光工程 年份：2001
器件的漏气率大小是决定红外探测器搁置和使用寿命的关键因素之一 ,也是判断军用多元金属杜瓦瓶真空完善性的重要指标 ,特别是常规漏率检测手段难以探测微小漏率是长久以来影...
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