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[会议论文] 作者：唐凤,蒋采君,
来源：压电晶体2003年年会 年份：2003
目前,一个困扰晶体制造商的最大问题是低噪声晶体的大批量生产与测试.在频率年会汇编的文献中曾有报道:生产中预测晶体的相位噪声的有效方法,是测量晶体对激励电平的依赖(即...
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