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[学位论文] 作者：袁德冉,,
来源：合肥工业大学 年份：2016
半导体制造技术的持续发展,使得如今的纳米尺寸集成电路中晶体管尺寸、供电电压和关键电荷持续减小,由于集成电路已广泛应用于生产生活中,因此对由空间辐射效应引发的集成电...
[期刊论文] 作者：梁华国,袁德冉,闫爱斌,黄正峰,,
来源：计算机辅助设计与图形学学报 年份：2015
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲......
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,黄正峰,袁德冉,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2015
为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估,建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型,并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿...
[期刊论文] 作者：闫爱斌,梁华国,许晓琳,袁德冉,,
来源：合肥工业大学学报(自然科学版) 年份：2016
为了准确评估集成电路的软错误率（soft error rate，SER），文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号，将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入，然后使用考虑......
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