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[期刊论文] 作者：郑鹏洲,,
来源：微电子学与计算机 年份：1989
美国军用标准“微电子器件试验方法和程序”(即“MIL-STD-883”)在国际微电子学领域享有盛誉,是该领域中方法最多、内容最全的标准。被世界各国普遍借鉴和引用,也是我国...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：质量与可靠性 年份：2001
美军标MIL-STD-883,原名《微电子器件试验方法和程序》,从1968年问世以来,对微电子器件可靠性的提高起着重要的作用。 由于该标准中的试验方法已从初版的48项增至今天的...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1986
一、前言由于混合集成电路所用材料多、工艺复杂且批量小等原因,因此,与国外集成电路可靠性发展历史相似,国内混合电路研究与生产的起点和步伐比单块电路晚和慢,尤其在可靠性...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2016
电子元器件国家军用标准对于提高和保证军用电子元器件的可靠性具有重要的作用。但是,由于目前我国军用标准体制还不够完善,因此我国国军标中存在的某些问题没法得到及时的修...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1997
本文从大量分析实践中探讨了这个课题，并提出让用户参与分析是提高分析质量的有效手段之一的论点。...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：质量与可靠性 年份：1992
电路使用失效的比例居高不下,除造成经济损失外,更重要的是影响系统可靠性。因此,着重探讨降低使用失效应采取的措施,并通过实例,指出要:(1)加强宣传教育,提高设计和使用水平...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：质量与可靠性 年份：1991
搞好失效分析会带来巨大经济效益。本文试从我中心几年来的部分分析实例说明:质量工作中重要一环——失效分析和信息反馈对提高产品质量的重大作用,从而获得巨大的经济...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：质量与可靠性 年份：1989
我部与中国质量与可靠性专业学会,1988年11月5日至8日在上海联合召开失效分析学术讨论会。这次会议由我部分析中心与华东师大联合筹办。...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1991
本文强调失效分析工作在元器件可靠性工作中的重要作用.及对合理配置失效分析机构提出了一些建议....
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：半导体技术 年份：2004
接温老化取代高温脉冲功率老化已一年,在此老化条件下停止作175℃存贮筛选,从筛选机理上讨论和实验证明都是可行的。这样不仅节省大量人力物力,且由于老化时管腿温度仅110℃,...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1987
为加强电子元器件的质量分析工作、提高各类航天设备的研制质量,航天部决定成立半导体器件失效分析中心.现该中心已在航天部771研究所成立,并已开展工作.该中心的主要任务是...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1991
本文强调失效分析工作在元器件可靠性工作中的重要作用.及对合理配置失效分析机构提出了一些建议.This article emphasizes the important role of failure analysis in th...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1992
本文在对微电路国军标(相应的美军标)、国情作调查研究的基础上,对如何结合我国国情修改好国军标提出一些看法。Based on the investigation and study of the national mi...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：半导体技术 年份：1984
管壳和封装工艺的选择,直接影响到电路的热阻.合理的设计和封装工艺将会显著降低电路热阻,降低芯片结温,从而提高电路寿命.特别在今天,中大规模电路日益增多,电路密度增加,...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1980
对近二万小时的加速寿命试验失效电路进行分析,对各个时期的失效机理进行了讨论。在附录中简要叙述了分析方法。Analysis of nearly 20,000 hours of accelerated life tes...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：微电子学与计算机 年份：1975
在贝尔公司里,半导体器件可靠性发展的历史是一个顺序应用下列原则的历史。第一个原则是采用工艺来提高可靠性。这个原则是在缺乏完善有见识的设计和试验控制时采用的。第二...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,,
来源：微电子学与计算机 年份：1988
部质量司3月发出通知,为提高我部电子元器件失效分析技术,决定于今年10月召开学术讨论会。会议的组织和会务工作委托部半导体器失效分析中心承办。会议主要交流内容为:Dep...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
电子元器件失效分析结果表明,由于选择和使用不当导致失效的比例达50％以上。为此,原国防科工委科技委聂力副主任作了批示: 各单位有一批重视电子元器件可靠性研究的专家,并有...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：质量与可靠性 年份：1992
由中国电子学会RQC学会、航空航天部半导体器件失效分析中心与机电部军工电子可靠性管理办公室联合举办的1991年全国可靠性物理学术讨论会于1991年11月1日至5日在上海召开。...
[期刊论文] 作者：郑鹏洲,
来源：电力电子 年份：2012
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