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[学位论文] 作者：陈成菊,
来源：上海大学 年份：2000
随着武器装备的不断发展，电子元器件尤其是微电子器件在海军装备上的应用越来越广泛，高温、高湿、高盐雾的海洋环境对海军用电子元器件（如双极晶体管）的贮存可靠性有较大影响，因此......
[期刊论文] 作者：陈成菊,张小玲,赵利,齐浩淳,谢雪松,吕长志,,
来源：半导体技术 年份：2013
为了评价晶体管在海洋环境中的耐腐蚀性能,对3DK4C和3DK105B两种晶体管开展了两个盐雾试验的分析和研究。试验Ⅰ从外观腐蚀情况和电学参数退化两个方面对比分析了两种晶体管...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：四川兵工学报 年份：2014
在模拟海洋环境下进行了3组不同盐溶液浓度的晶体管加速腐蚀试验，对试验样品得到的腐蚀结果进行了研究。对晶体管管壳的腐蚀速度随着浓度的增加而下降的原因进行了分析，阐述了......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：四川兵工学报 年份：2014
提出了用理想因子n作为表征，对双极晶体管的贮存寿命进行评估的新方法。以某型双极晶体管为研究对象，进行了3组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验，分析了随试验时间的增加双极......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,赵利,陈成菊,吕长志,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2014
Considering the impacts of ideal factor n, V_(BE) and band gap changes with the temperature on current gain, the current gain expression has been corrected to m...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2014
NPN-type small and medium power switching transistors in 3DK series are used to conduct analyses and studies of accelerating degradation. Through three group st...
[期刊论文] 作者：陈成菊,张小玲,赵利,赵伟,齐浩淳,谢雪松,吕长志,,
来源：半导体技术 年份：2013
为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏...
[期刊论文] 作者：赵利,张小玲,陈成菊,谢雪松,齐浩淳,吕长志,肖文杰,,
来源：微电子学 年份：2014
修正了电流增益表达式。对样品3DK105B在不同温度点下进行测试分析。考虑样品理想因子n随温度的变化、VBE随温度的变化,以及禁带宽度随温度变化对电流增益的影响,对电流增益...
[期刊论文] 作者：吕曼,张小玲,张彦秀,谢雪松,孙江超,陈成菊,吕长志,,
来源：微电子学 年份：2013
双极晶体管的辐照总剂量效应主要表现为电流增益下降和漏电流增加。工艺相同、发射结结深不同的LPNP双极晶体管的抗辐照敏感性不同,浅发射结LPNP的抗辐照性能更强。由于离子...
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