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[学位论文] 作者：高史义,,
来源：浙江大学 年份：2015
近年来,集成电路产业发生了翻天覆地的变化。随着制造工艺进入纳米阶段,芯片的速度和集成度不断上升,由此引发的芯片功能验证问题日益显著。芯片的验证技术影响着芯片的性能...
[会议论文] 作者：金熹高, 史义,,
来源： 年份：2005
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[期刊论文] 作者：高史义,罗小华,卢宇峰,刘富春,张晨秋,,
来源：浙江大学学报(工学版) 年份：2015
针对集成电路验证向量生成与功能覆盖率收敛的问题，提出一种基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术．通过计算分析遗传算法中遗传算子的慨率分布函数，获得由比例选择算子、均匀交叉算......
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