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[会议论文] 作者：魏建中[1]武志刚[2]王实[1]张良莹[2]姚熹[2],
来源：第八届全国可靠性物理学术讨论会 年份：1999
本文介绍了一种适用于Ⅱ型铁电类多层陶瓷电容器(MLC)的快速无损检测方法,这一测试方法是建立在铁电类MLC旋加直流偏压时产生机电谐振现象的基础之上,电容器的内部缺陷会严重...
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