搜索筛选:
搜索耗时2.1422秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 17 篇相符的论文内容
发布年度:
[学位论文] 作者：齐浩淳,,
来源：北京工业大学 年份：2014
在海洋环境下，温度、湿度、盐雾等因素会加速电子元器件的老化和锈蚀，导致其电性能下降、结构材料断裂和机械强度降低等失效模式的发生，进而影响电子元器件的贮存可靠性。目前，对......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,,
来源：电脑知识与技术 年份：2008
SEP4020是东南大学ASIC中心自主开发的一款基于ARM7TDMI核的微处理器，通过IIS音频总线与UDA1341型CODEC构成一种嵌入式音频系统，实现音频的播放和采集。该文介绍了基于SEP4020...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,
来源：电脑知识与技术：学术交流 年份：2009
嵌入式系统作为计算机应用的一个崭新领域，以其简洁、高效等优点越来越多地受到人们的关注，而要开发一个嵌入式应用系统，则需要嵌入式硬件、嵌入式操作系统及相应的开发工具等。......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,
来源：电脑知识与技术·学术交流 年份：2008
摘要：SEP4020是东南大学ASIC中心自主开发的一款基于ARM7TDMI核的微处理器，通过IIS音频总线与UDA1341型CODEC构成一种嵌入式音频系统，实现音频的播放和采集。该文介绍了基于SEP4020和IIS总线的嵌入式音频设备的硬件体系结构及其驱动程序的设计。给出相关硬件电路的......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,黄大鹏,于海龙,师菁菁,,
来源：兵器装备工程学报 年份：2016
在弹药供应保障中要重点依托信息化技术，寻找能够有效解决弹药供应保障过程中出现各种问题的策略，建立合理的弹药供应保障指挥体系，为切实提高我军的弹药供应保障能力奠定基础。......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,黄大鹏,魏久南,陈志刚,,
来源：兵器装备工程学报 年份：2016
采用BP神经网络方法,建立了高寒山地弹药消耗量预测模型,对模型的预测流程和步骤进行了描述;结合高寒山地实际,对高寒山地弹药供应保障的消耗量需求进行分析。预测结果表明,...
[期刊论文] 作者：许迪迪,张小玲,齐浩淳,谢雪松,
来源：电力电子技术 年份：2018
功率金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的热不稳定现象,限制了MOSFET的安全工作区。为得到符合实际的安全工作区,建立了一种分析模型,综合考虑了电流温度系数、热阻等因素,...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,吕长志,张小玲,谢雪松,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2013
Choosing small and medium power switching transistors of the NPN type in a 3DK set as the study object,the test of accelerating life is conducted in constant te...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2014
According to the multi-performance degradation of the bipolar transistor in the accelerating storage process, an extrapolation model of the storage lifetime is...
[期刊论文] 作者：陈成菊,张小玲,赵利,齐浩淳,谢雪松,吕长志,,
来源：半导体技术 年份：2013
为了评价晶体管在海洋环境中的耐腐蚀性能,对3DK4C和3DK105B两种晶体管开展了两个盐雾试验的分析和研究。试验Ⅰ从外观腐蚀情况和电学参数退化两个方面对比分析了两种晶体管...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：四川兵工学报 年份：2014
在模拟海洋环境下进行了3组不同盐溶液浓度的晶体管加速腐蚀试验，对试验样品得到的腐蚀结果进行了研究。对晶体管管壳的腐蚀速度随着浓度的增加而下降的原因进行了分析，阐述了......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：四川兵工学报 年份：2014
提出了用理想因子n作为表征，对双极晶体管的贮存寿命进行评估的新方法。以某型双极晶体管为研究对象，进行了3组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验，分析了随试验时间的增加双极......
[会议论文] 作者：郭敏;吕长志;齐浩淳;谢雪松;张小玲;孟先磊;,
来源：2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会 年份：2011
从阿伦尼斯方程出发，本文对以电参数退化为基础的加速寿命试验中的失效激活能的评估提出了新方法。新方法在研究了失效激活能计算模型的推导过程基础上，提出了新的计算机程......
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,赵利,陈成菊,吕长志,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2014
Considering the impacts of ideal factor n, V_(BE) and band gap changes with the temperature on current gain, the current gain expression has been corrected to m...
[期刊论文] 作者：齐浩淳,张小玲,谢雪松,吕长志,陈成菊,赵利,,
来源：Journal of Semiconductors 年份：2014
NPN-type small and medium power switching transistors in 3DK series are used to conduct analyses and studies of accelerating degradation. Through three group st...
[期刊论文] 作者：陈成菊,张小玲,赵利,赵伟,齐浩淳,谢雪松,吕长志,,
来源：半导体技术 年份：2013
为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏...
[期刊论文] 作者：赵利,张小玲,陈成菊,谢雪松,齐浩淳,吕长志,肖文杰,,
来源：微电子学 年份：2014
修正了电流增益表达式。对样品3DK105B在不同温度点下进行测试分析。考虑样品理想因子n随温度的变化、VBE随温度的变化,以及禁带宽度随温度变化对电流增益的影响,对电流增益...
相关搜索：
