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[学位论文] 作者：龚敏刚,
来源： 年份：2018
认识明确半导体材料中的缺陷态对提高硅太阳能电池的转换效率具有重要意义。众多研究者主要采用了能谱法(EDS)、霍尔效应等测试方法来研究半导体材料中的缺陷态,但这些方法的精确度低,灵敏度也不够高。深能级瞬态谱仪(DLTS)是测试半导体材料中缺陷态最有效的方......
[会议论文] 作者：龚敏刚,肖友鹏,田罡煜,高超,黄海宾,周浪,邓新华,
来源：第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会 年份：2016
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[会议论文] 作者：龚敏刚,黄海宾,田罡煜,肖友鹏,高超,邓新华,周浪,
来源：第十二届中国太阳级硅及光伏发电研讨会 年份：2016
介绍了目前人们对非晶硅表面钝化本质的认识在半导体物理方面多限于钝化后硅片少子寿命的提高以及由此推算所得表面复合速率的大小,认为这还不能清晰解答钝化作用的本质,因为钝化薄膜的作用包括对悬挂键的减少以及表面固定电荷的变化等多种机制.......
[期刊论文] 作者：龚敏刚,黄海宾,田罡煜,高超,孙喜莲,邓新华,袁吉仁,周浪,
来源：激光与光电子学进展 年份：2017
以SiH4和H2作为气源, 采用热丝化学气相沉积法制备a-Si∶H薄膜钝化c-Si表面, 采用准稳态光电导法和I-V法分析了工艺参数对钝化效果的影响, 采用C-V法和深能级瞬态谱法对钝化后硅片表面的缺陷态进行测试。实验结果表明, 在频率为200 kHz时, 表面复合速率为54 cm/......
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