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[期刊论文] 作者：A.R.Klayton,W.A.Barrett,A.I.Larky,沈沦海,,
来源：电子计算机动态 年份：1978
本文提出一种算法,用于半导体随机线选法存储系统中检测和诊断地址寄存器、译码器和数码寄存器等各种固定性故障。应用一个外加测试器,它只通过公共的控制信号、电源线、地址...
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