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[期刊论文] 作者:ENRICO ZANONI,ALESSANDRO CALLE, 来源:电子产品可靠性与环境试验 年份:1995
4 欧姆接触的退化 源和漏欧姆接触电阻直接影响着寄生串联电阻Rs和Rd,并由此而影响器件的特征参数如Idss,gm,Po,N...
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