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[期刊论文] 作者：GaryL.WestoyNagleP.Nelson,徐吉万,
来源：国外自动化 年份：1982
本文描述了一台低成本数字IC测试设备,它是用Intel—8080微计算机系列来实现的。加到每只待测IC片上的测试码模式从存储在存储器中的表内查取,如果需要,还可有相应的时钟信号...
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