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[期刊论文] 作者：BORDEL N,LOBO L,PISONERO J,PEREIRO R,TUCCITTO N,LICCIARDELLO A,TEMPEZ A,CHAPON P,HOHL M,MICHLER J,SANZ-MEDEL,
来源：冶金分析 年份：2009
高级多层材料的直接表面和深度分布化学分析要求了解多维信息,包括同时了解元素和分子信息。用飞行时间质谱法(TOFMS)检测的脉冲式射频辉光放电(pulsed rf-GDs)可以从种类繁...
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