搜索筛选:
搜索耗时3.8003秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[会议论文] 作者:LinZhiqin[1]林志钦[2]FengJianhua[1]冯建华[2]LiLei[3]李蕾[4]ZhangXing[3]张兴[4],
来源:第七届中国测试学术会议 年份:2012
随着工艺的发展,尤其到45nm以下,工艺波动、串扰、电源噪声分布以及阻性短路和开路等会引入大量小时延缺陷(small delay defect),这些小时延在高频电路中可能引起时序功能失...
相关搜索: