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[期刊论文] 作者：Lyco.,NE,靳宝安,
来源：微电子学 年份：1989
本文考察了半导体不稳定性机理,以便更好地了解这一非常复杂的现象。有了这种深入了解,在设计和生产中,就可将半导体的不稳定性降至最小。给出了下面几个问题的基本设想、图...
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