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[期刊论文] 作者：刘义为,Moulder JF,Vlasak PR,蒋致诚,
来源：理化检验(化学分册) 年份：2001
XPS和TOF-SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分，找出污染物的来源；XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息，而TOF-SIMS能够提供其分子信息。试验证明两者...
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