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[期刊论文] 作者：Wu Sen(吴森),Shen Wen-Zhong(沈文忠),Ogawa Hiroshi(小川博司),Guo Qi-Xin(郭其新),
来源：中国物理（英文版） 年份：2003
Far-infrared reflection and Raman scattering measurements have been carried out on reactive ion,etched p-ZnTe samples.The averaged thickness of the surface dama...
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