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[期刊论文] 作者：DavidW.Price ToddHenry RobertF,
来源：电子工业专用设备 年份：2005
监控和消除隐藏的电路缺陷已成为130 nm和130 nm以下器件的关键.这使得电子束检查正在广泛应用于开发、试生产和量产的监控过程.我们将描述当前铜逻辑和晶圆代工厂电子束检查...
[期刊论文] 作者：RobertF,张金诚,等,
来源：南炼科技 年份：2001
美国炼油工业当前的趋势是加工更重、更便宜的原油，迫使各炼油厂处理日益增多的渣油。这反过来又增加了炼厂对于渣油处理工艺（特别是延迟焦化工艺）的要求。由于渣油（即常压和减压......
[期刊论文] 作者：RobertF,尤丽芬(译者),周瑶西(其他),
来源：国际免疫学杂志 年份：1984
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