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环氧树脂模填加剂模压处理后对MOS场效应晶体管引线键合可靠性的影响
[期刊论文] 作者：Rohit T. Nayak Toufique Ahmed, 来源：电子工业专用设备 年份：2007
氧化硅填充环氧树脂在作为芯片封装的密封中对微电子器件的可靠性与功能起着一种主要影响。在帮助了解铝引线键合内部类似功率MOS场效应晶体管的一种含铅电子组件的可靠性，在...
环氧树脂模填加剂模压处理后对MOS场效应晶体管引线键合可靠性的影响
[期刊论文] 作者：Rohit T. Nayak,Toufique Ahmed,, 来源：电子工业专用设备 年份：2004
氧化硅填充环氧树脂在作为芯片封装的密封中对微电子器件的可靠性与功能起着一种主要影响.在帮助了解铝引线键合内部类似功率MOS场效应晶体管的一种含铅电子组件的可靠性,在...
环氧树脂模填加剂模压处理后对MOS场效应晶体管引线键合可靠性的影响(英文)
[期刊论文] 作者：Rohit T. Nayak,Toufique Ahmed,Arvind Krishna,Ken Hollis,, 来源：电子工业专用设备 年份：2007
氧化硅填充环氧树脂在作为芯片封装的密封中对微电子器件的可靠性与功能起着一种主要影响。在帮助了解铝引线键合内部类似功率MOS场效应晶体管的一种含铅电子组件的可靠性,在...
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