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[会议论文] 作者:S. W. Ricky Lee,Dennis Lau, 来源:2004’中国广州应对欧盟WEEE和RoHS指令暨第三届废旧电气电子回收技术国际研讨会 年份:2004
本文分析了在温度循环条件下PBGA焊点的热疲劳寿命特点。温度循环条件是一小时周期,温度从-40℃变化到125℃。从测试数据获得了维泊尔分布特征。此外,建立了无限单元模型,用于分......
[会议论文] 作者:S. W. Ricky LEE, 来源:第十届中国国际半导体照明论坛 年份:2013
Due to the continuous demand of higher lumen output,the power of high brightness LEDs has been raised substantially in the past 10 years.Higher power will indeed result in a higher junction temperatur...
[期刊论文] 作者:S. W. Ricky Lee,Lifeng Fu,Yuming Ye,Sang Liu,, 来源:电子工业专用设备 年份:2007
任何电子产品在进入市场之前的可靠性测试是十分重要的环节。为此,在之前的几十年中开发了多种类型的测试方法。一种广泛使用的测试方法便是线路板弯曲测试。进行可靠性测试...
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