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Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrolog
[会议论文] 作者：Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN,Chuanwei ZHANG,
来源：第十七届全国凝聚态光学性质会议 年份：2014
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Development of a broadband Mueller matrix ellipsometer as a powerful tool for nanostructure metrolog
[会议论文] 作者：Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN,Chuanwei ZHANG,
来源：第十七届全国凝聚态光学性质会议 年份：2014
Ellipsometry is an optical technique that uses polarized light to characterize the thickness and optical constants of both layered and bulk materials.Among the...
[会议论文] 作者：Yinyin Tan,Xiuguo Chen,Hao Jiang,Shiyuan Liu,
来源：第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 年份：2016
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[会议论文] 作者：Honggang Gu,Hao Jiang,Xiuguo Chen,Chuanwei Zhang,Shiyuan Liu,
来源：第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 年份：2016
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