搜索筛选:
搜索耗时0.7881秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 77 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者：谈恩民,琚兆学,,
来源：微电子学与计算机 年份：2016
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷，将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中．建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型，在测试访问机制合理......
[期刊论文] 作者：谈恩民,王海超,,
来源：微电子学与计算机 年份：2014
在大规模数模混合信号集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点.BIST技术不仅能缩短测试和验证时间,而且提高了故障覆盖率,被越来越多地应用在模拟电路的测试中.由此对传...
[期刊论文] 作者：谈恩民,贾亚平,,
来源：微电子学与计算机 年份：2017
针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测试的IP核数量达到最大.此......
[期刊论文] 作者：朱艳萍,谈恩民,
来源：科技视界 年份：2016
常规教学模式即传统的课堂授课模式。本文探讨了此种模式与现代多媒体移动平台的衔接,提出了搭建课程QQ群作为课堂的延伸,并允许学生将手机或笔记本电脑带入课堂,引导其适时...
[期刊论文] 作者：高俊强,谈恩民,
来源：国外电子测量技术 年份：2012
边界扫描技术的提出给集成电路的测试带来极大方便,但集成电路随着半导体技术的发展变得越来越复杂,导致测试功耗迅速提高,对芯片造成一定甚至不可挽回的影响。为降低测试功...
[期刊论文] 作者：谈恩民,郭学仁,
来源：桂林电子工业学院学报 年份：2000
从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程...
[期刊论文] 作者：胡哲纲,谈恩民,,
来源：国外电子测量技术 年份：2010
随着集成电路工艺和规模的飞速发展，使得VLSI测试变得日益困难，因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上，介绍了几种电路分块算法，分析了分......
[期刊论文] 作者：谈恩民,乐小春,刘建军,,
来源：机械与电子 年份：2009
利用LFSR与CSR结合，对产生的测试矢量进行过滤，使测试矢量数达到最少，从而降低测试过程中的测试功耗。以ISCSA85实验结果表明，该方案能够改善测试矢量之间的线性相关性，大量减少测......
[期刊论文] 作者：谈恩民,邵根富,
来源：电测与仪表 年份：2000
虚拟仪器发展中提出了三项基本要求：开放式工业标准性、互换性和互操作性。文中从这三项要求出发，指出了虚拟仪器发展中的问题，提出了将计算机外设广泛应用的火线（ＩＥＥＥ１３９４）用于虚拟仪器的......
[期刊论文] 作者：袁江楠,谈恩民,,
来源：大众科技 年份：2012
在802.16e系统中,接收端对同步精度有很高的要求,同步误差会导致系统性能的急剧下降。文章介绍了OFDMA的基本概念和体系结构,分析了同步误差对系统性能的影响,并对系统的同步...
[期刊论文] 作者：谈恩民,陈尚松,
来源：桂林电子工业学院学报 年份：1999
虚拟仪器的概念源于微机卡式仪器而基于ＶＸＩ总线的虚拟仪器可以充分利用ＶＸＩ总线数据吞吐能力强，定时和同步精确，可扩充性好，众多仪器厂商支持等优点，成为实施虚拟仪器思想的最佳选择在ＶＸＩ总......
[期刊论文] 作者：姚丽婷,谈恩民,,
来源：电子设计工程 年份：2010
针对内建自测试（Built—In Self-Test，BIST）技术的伪随机测试生成具有测试时间过长，测试功耗过高的缺点，严重影响测试效率等问题。提出一种低功耗测试生成方案，该方案是基于线性反......
[期刊论文] 作者：谈恩民,位庆海,,
来源：计算机测量与控制 年份：2016
针对如何在工业应用中找到一种实现周期更短和更低成本的图像数据采集方法进行了研究;通过分析以太网帧格式和JPEG图像数据特点,给出了一种对JPEG图像帧进行分片并对分片进行...
[期刊论文] 作者：邬毅松,谈恩民,,
来源：计算机系统应用 年份：2011
测试调度能够很好的减少测试时间和降低测试成本。通过调度，SOC中尽可能多的IP核可以进行并行测试，然而过度的并行测试会引起功耗过高，对SOC产生不利影响。为了改善这个问题，考虑......
[期刊论文] 作者：谈恩民,詹琰,刘建军,,
来源：计算机应用研究 年份：2011
为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器。这种技术首先对确定测试矢量进行编码得到LFSR矢量种子,然后对LFSR种子解码、重排得到新的测试矢量。通过ISCAS85实验结果表明,该技术能够改善测试矢量之间的线性相关......
[期刊论文] 作者：谈恩民,钱文武,刘建军,,
来源：微电子学与计算机 年份：2008
为了向可重复播种的LFSR结构提供种子，提出一种基于动态覆盖率提高门槛值（Dynamic Coverage Improvement Threshold，DCIT）的种子计算方法。使用该方法计算得到的种子进行重复播种...
[期刊论文] 作者：谈恩民,贾亚平,,
来源：微电子学 年份：2016
针对片上系统(SoC)中模数转换器(ADC)的测试,提出了一种测试IP核结构。IP核主要由模拟信号源、换位器和标准数模转换器(DAC)等组成,能够根据设计者不同的需求选择不同的测试...
[会议论文] 作者：谈恩民,李秀真,
来源：第十六届全国测控、计量、仪器仪表学术年会 年份：2006
大多数存储器测试算法的优化是面向特定的存储器技术或者特殊的故障模型设置.这些优化都是针对面向"位"的存储器.常规的字存储器的测试是通过反复地应用位存储器的测试方法来...
[会议论文] 作者：谈恩民,王彦婷,
来源：2007年首届仪表、自动化与先进集成技术大会 年份：2007
随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC芯片的结构也越来越复杂,嵌入在SoC芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此SoC中存储器的测试显得尤为重要。基于面向自测试March C算...
[会议论文] 作者：谈恩民,陈尚松,
来源：全国第四届VXI技术专题报告会 年份：1999
本文论述了VXI总线虚拟仪器的基本构成以及组建的几种基本方式，并对其在通信测试，车辆参数测试等领域的应用能力进行了初步探讨。...
相关搜索：
