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[期刊论文] 作者:喻利花,, 来源:渤海大学学报(自然科学版) 年份:2008
材料近代分析方法是高等工科院校材料及热加工专业重要的试验方法课。本文分析了材料近代分析方法课程的特点,在此基础上并结合我校设备条件对该课程教学方法和教学手段进行了......
[期刊论文] 作者:农尚斌,喻利花,许俊华,, 来源:表面技术 年份:2008
为研究Si的加入及含量对薄膜结构和性能的影响,采用磁控反应溅射法制备了一系列不同Si含量的n—Si—N复合膜,采用XRD、微力学探针和SEM研究了薄膜的微结构、力学性能和抗氧化性...
[期刊论文] 作者:喻利花,董师润,许俊华,, 来源:物理学报 年份:2008
用射频磁控溅射法制备了AlN,BN单层膜及AlN/BN纳米多层膜.采用X射线衍射仪、高分辨率透射电子显微镜和纳米压痕仪对薄膜结构进行表征.分析表明:单层膜AlN为w-AlN结构,BN为非...
[期刊论文] 作者:喻利花,董松涛,董师润,许俊华,, 来源:材料热处理学报 年份:2008
采用射频磁控溅射方法制备了AlN、Si3N4单层薄膜和调制比为1的不同调制周期的AlN/Si3N4纳米多层膜。薄膜采用X射线衍射仪、X射线反射仪、高分辨率透射电子显微镜、原子力显微...
[期刊论文] 作者:董松涛,喻利花,董师润,许俊华,, 来源:机械工程材料 年份:2008
通过磁控共溅射方法制备了一系列不同硅含量的锆-硅-氮复合薄膜;采用能谱仪、X射线衍射仪、扫描电镜和微力学探针等对复合薄膜进行了表征;研究了薄膜中硅、锆原子比对复合薄膜......
[期刊论文] 作者:喻利花,董松涛,董师润,许俊华,, 来源:物理学报 年份:2008
采用射频磁控溅射方法制备单层AlN,Si3N4薄膜和不同调制周期的AlN/Si3N4纳米多层膜.采用X射线衍射仪、高分辨透射电子显微镜和纳米压痕仪对薄膜进行表征.结果发现,多层膜中Si...
[期刊论文] 作者:葛云科,顾晓波,喻利花,许俊华,, 来源:材料开发与应用 年份:2008
采用射频磁控反应溅射在单晶Si(100)上沉积了一系列不同Al含量的(Zr,Al)N薄膜,利用能谱仪(EDS)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)和微力学探针对薄膜的成分、结构、力学和抗氧化性能进......
[期刊论文] 作者:喻利花,农尚斌,董师润,许俊华,, 来源:机械工程材料 年份:2008
用射频磁控溅射法在硅基片上制备了AlN、BN单层膜及AlN/BN纳米多层膜,采用X射线衍射仪、傅立叶变换红外光谱仪、小角度X射线反射仪、高分辨率透射电子显微镜和原子力显微镜等...
[期刊论文] 作者:喻利花,董松涛,钟春良,董师润,许俊华,, 来源:金属热处理 年份:2008
利用磁控反应溅射法制备了不同Al含量的Ti1-xAlxN薄膜。采用能谱仪、X射线衍射仪及纳米显微力学探针分析了薄膜的成分、微结构及薄膜的硬度,研究了Al含量对薄膜的微结构、硬...
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