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[会议论文] 作者：邹春梅,左长明,
来源：第九届全国X-射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2006
本文通过分析论证：薄膜的微结构与工艺条件密切相关.YBCO薄膜的Tc受到薄膜的微结构及薄膜的厚度制约.我们用不同的基片相同的实验方法制备了相同厚度的YBCO薄膜.用X射线衍射对...
[期刊论文] 作者：黄惠东,王志红,左长明,曾慧中,
来源：电子显微学报 年份：2006
扫描非线性介电显微镜（SNDM）利用非线性介电效应检测电容的变化情况,分辨率达到亚纳米量级,精度达到10^-22F,主要应用于材料微区的电性能研究,目前以这项技术进行的研究主要集...
[期刊论文] 作者：黄惠东,王志红,左长明,曾慧中,,
来源：电子显微学报 年份：2006
扫描非线性介电显微镜(SNDM)利用非线性介电效应检测电容的变化情况,分辨率达到亚纳米量级,精度达到10-22F,主要应用于材料微区的电性能研究,目前以这项技术进行的研究主要集...
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