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[期刊论文] 作者：张宇,左长明,王小平,宋晓科,姬洪,
来源：材料导报：纳米与新材料专辑 年份：2008
铁电薄膜的性能与薄膜的择优取向和应力有密切的联系。采用X射线衍射（XRD）对3片不同自缓冲层条件下的Bi4Ti3O12（BIT）铁电薄膜进行了择优取向和应力分析，研究了自缓冲层影响择优取......
[会议论文] 作者：姬洪,李言荣,李超,左长明,
来源：四川省电子学会半导体与集成技术专委会2008年度学术年会 年份：2008
用低压金属有机化学气相外延(LP-MOCVD)方法在蓝宝石(A1203)衬底上生长GaN外延膜，用高分辨X射线衍射(HRXRD)技术分析该外延膜的晶格常数，探讨GaN自缓冲层的引入实现较高质量的G...
[期刊论文] 作者：周勋,左长明,邹泽亚,廖秀英,姬洪,罗木昌,刘挺,赵红,
来源：半导体光电 年份：2008
采用LP-MOCVD在蓝宝石基片上外延生长了Mg掺杂p-GaN，并对样品进行了退火处理。利用高分辨X射线衍射（HRXRD）对经不同退火时间处理后的样品进行了测试分析，从应变的角度对P型GaN中...
[期刊论文] 作者：周勋,左长明,邹泽亚,廖秀英,姬洪,罗木昌,刘挺,赵红,,
来源：半导体光电 年份：2008
采用LP-MOCVD在蓝宝石基片上外延生长了Mg掺杂p-GaN,并对样品进行了退火处理。利用高分辨X射线衍射(HRXRD)对经不同退火时间处理后的样品进行了测试分析,从应变的角度对p型Ga...
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