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[期刊论文] 作者：赵豫斌,章红宇,盛华义,,
来源：核电子学与探测技术 年份：2007
阐述了BESⅢ漂移室电子学中时间测量电路的主要性能指标：时间分辨、微分非线性及积分非线性的测试方法及测试结果。...
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