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[期刊论文] 作者：袁菁,龚敏,王海云,翁惠民,,
来源：四川大学学报(自然科学版) 年份：2010
本文将慢正电子湮灭多普勒展宽谱技术，应用于对SiC表面热氧化生长的SiO2特性的研究．S参数和W参数在退火前后的变化，直观的反映出SiO2／SiC表面氧化层中空位型缺陷浓度的改变．通过与......
[会议论文] 作者：张丽娟,张杰,李强,成斌,刘建党,翁惠民,韩荣典,叶邦角,
来源：第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会 年份：2010
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[期刊论文] 作者：许红霞, 陈祥磊, 成斌, 熊涛, 高传波, 郝颖萍, 翁惠民,,
来源：核电子学与探测技术 年份：2010
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[会议论文] 作者：许红霞,安然,郝颖萍,刘建党,成斌,孔伟,韩荣典,翁惠民,叶邦角,
来源：第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会 年份：2010
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