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[学位论文] 作者：赵智军,,
来源：清华大学 年份：1996
电迁移引致的薄膜导线失效是影响半导体集成电路寿命和可靠性的重要因素,一直受到半导体工业的关注:并且随着半导体工业的技术进步,这一问题有着越来越重要的意义。本文从理...
[期刊论文] 作者：赵智军,杨卫,
来源：Tsinghua Science and Technology 年份：1997
ＤａｍａｇｅｏｆＩｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔｓｂｙＥｌｅｃｔｒｏｍｉｇｒａｔｉｏｎＩｎｄｕｃｅｄＳｕｒｆａｃｅＥｖｏｌｕｔｉｏｎ＊ＺｈａｏＺｈｉｊｕｎ（赵智军），ＹａｎｇＷｅｉ（杨卫）ＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＥｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇＭｅｃｈａｎｉｃｓ，Ｔｓ...Damage of Interconnects by Electromigration Induced Surface Evolution * Zhao Zhijun, Yang Wei Department of Engineering Mecha......
[期刊论文] 作者：孙庆平,赵智军,卿新林,陈渭泽,戴福隆,
来源：中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学) 年份：1994
本文首次综合运用高密度光栅、形貌仪以及激光Raman微探针技术对ZrO_2相变多晶体陶瓷材料的应力协助相变塑性行为进行了宏观—细观实验研究,发现了室温下材料受单轴拉伸和单...
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