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[期刊论文] 作者：吉元,钟涛兴,李志国,王晓东,夏洋,BALK L J,LIU,
来源：电子显微学报 年份：2003
在ULSI中采用Cu互连线代替Al以增加电子器件的传输速度和提高器件的可靠性.Cu的激活能约为1.2eV,而Al的激活能约为0.7eV.Cu互连线寿命约为Al的3～5倍.Cu大马士革互连线的制备工...
[期刊论文] 作者：吉元,钟涛兴,李志国,王晓东,夏洋,BALK L J,LIU,
来源：黑龙江科技学院学报 年份：2003
为探究吕家坨井田地质构造格局,根据钻孔勘探资料,采用分形理论和趋势面分析方法,研究了井田7...
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