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[期刊论文] 作者：Rong-Sheng Chen,Yu-Rong Liu,Yun-Fei En,Bin Li,Wen-Xiao Fang,
来源：中国物理快报（英文版） 年份：2017
The total ionizing dose radiation effects in the polycrystalline silicon thin film transistors are studied.Transfer characteristics,high-frequency capacitance-v...
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