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[期刊论文] 作者：郑玉展,陆妩,任迪远,王改丽,文林,孙静,,
来源：核技术 年份：2008
本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为，发现同型号产品的辐射效应有很大差异。我们分析了此类辐射效应差异的主要原因，对双极运算放大器高低剂......
[期刊论文] 作者：王改丽,余学峰,任迪远,郑玉展,孙静,文林,,
来源：核技术 年份：2008
通过对CMOS 4000、54HC系列门电路进行不同偏置条件下的电离辐照实验，比较了电离辐照环境中CMOS 4000和54HC系列电路的总剂量辐照响应特性，对其响应差异进行了较深入的机理研...
[期刊论文] 作者：文林,张军,郭旗,任迪远,孙静,郑玉展,王改丽,,
来源：新疆大学学报(自然科学版) 年份：2008
针对电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果评估方法及理论计算在器件屏蔽封装中应用的问题，本文通过理论计算一种屏蔽材料对1.0MeV电子的屏蔽效果，以及对应的实验验证，指出此种屏蔽......
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